全譜直讀型ICP光譜儀屬于精密測量?jì)x器，光學(xué)系統微小的變化(如結構件的熱脹冷縮等)即會(huì )引起很大的測量誤差，因此光譜儀在設計時(shí)會(huì )對光學(xué)系統進(jìn)行恒溫控制。但即使如此，外界溫度的變化仍會(huì )影響恒溫系統的熱平衡狀態(tài)，引起測量誤差，因此為了測量結果的精密度，應盡可能減小使用過(guò)程中環(huán)境溫度的波動(dòng)，較大不應*過(guò)5℃。
 

　　全譜直讀型ICP光譜儀分析的誤差的性質(zhì)及其產(chǎn)生的原因：
 

　　1.系統誤差也叫可測誤差，它是由于分析過(guò)程中某些經(jīng)常發(fā)生的比較固定的原因所造成的，它是可以通過(guò)測量而確定的誤差。通常系統誤差偏向一方，或偏高，或偏低。例如光譜標樣，經(jīng)過(guò)足夠多次測量，發(fā)現分析結果平均值與該標樣證書(shū)上的含量值始終有一差距，這就產(chǎn)生一個(gè)固定誤差即系統誤差，系統誤差可以看作是對測定值的校正值，它決定了測定結果的準確度。
 

　　2.偶然誤差是一種無(wú)規律性的誤差，又稱(chēng)不可測誤差，或隨機誤差，它是由于某些偶然的因素(如測定環(huán)境的溫度、濕度、振動(dòng)、灰塵、油污、噪音、儀器性能等的微小的隨機波動(dòng))所引起的，其性質(zhì)是有時(shí)大，有時(shí)小，有時(shí)正，有時(shí)負，難以察覺(jué)，難以控制。它決定了測定結果的精密度。
 

　　3.過(guò)失誤差是指分析人員工作中的操作失誤所得到的結果，沒(méi)有一定的規律可循，只能作為過(guò)失。不管造成過(guò)失誤差的具體原因如何，只要確知存在過(guò)失誤差，就將這一組測定值數據以異常值舍棄。
 

　　在全譜直讀型ICP光譜儀的分析過(guò)程中，從開(kāi)始取樣到后出分析數據，是由若干個(gè)操作環(huán)節組成的，每一環(huán)節都產(chǎn)生一定的誤差。當無(wú)過(guò)失誤差時(shí)，光譜分析的總誤差主要是系統誤差和偶然誤差的總和，便決定了光電直讀光譜分析方法的正確度。分析正確度包含二方面內容:正確性和再現性。正確性表示分析結果與真實(shí)含量的接近程度，系統誤差小，正確性高。再現性(精密度)表示多次分析結果的離散程差和偶然誤差或系統誤差和偶然誤差都很小時(shí)，精密度就等于正確度。